1.各部分門頂尖主管 輪流擔任董事長
2.避免突發狀況 導致群龍無首
由於這樣的制度 因此2018年12月
孟晚舟遭逮捕時 公司仍有許多一級主管
nomo333 wrote:
2022.12.26...(恕刪)
小弟認為 目前至少仍落後3年
但上海微電子、中芯、晉華都在努力
先將12、14、28奈米 打造MIC生態
未來才有機會前進
京東方 也是自己努力
今天才能成為面板一雄 力拼三星
2023-02-21 18:45 IT之家(汪淼)
IT之家2 月21 日消息，開源鴻蒙OpenHarmony 是由開放原子開源基金會（OpenAtom Foundation）孵化及運營的開源項目，目標是面向全場景、全連接、全智能時代，基於開源的方式，搭建一個智能終端設備操作系統的框架和平台，促進萬物互聯產業的繁榮發展。
此前，已經有極客玩家初步為小米6、一加6T 等手機適配了開源鴻蒙OpenHarmony。根據最新消息，開源鴻蒙OpenHarmony 也成功適配PC 了。
據微信公眾號“OST 開源開發者”的消息，鴻蒙生態企業—— 軟通動力子公司鴻湖萬聯的工程師完成了OpenHarmony 對PC 的初步適配，基於OpenHarmony 3.2 Beta3 版本以及惠普某型號辦公筆記本。
據報導，此次適配支持了設備的開關機、畫面渲染、外設接入和運行App 等基礎功能，包括USB、網口、SATA 口、PCIE 等硬件接口的驅動也有了，性能已基本滿足生產生活需求，不過UI 界面等還沒有適配完成，後續還有大量工作要做。
報導還稱，鴻湖萬聯的工程師將在開放原子開源基金會OpenHarmony 技術峰會後放出部分脫敏的技術內容，初步的電腦端嚐鮮版預計會在今年流出。
據IT之家此前報導，第一屆開放原子開源基金會OpenHarmony 技術峰會即將於2 月25 日9 點在深圳啟幕，主題是“構築萬物智聯”，匯聚學術界、產業界前沿技術，分享當下技術成果，探索下一代技術方向。本次峰會主辦方為OpenHarmony 技術指導委員會，承辦單位是華為公司，支持單位包括潤和軟件、九聯科技、軟通動力、誠邁科技、優博訊等。
清華新聞網2月23日電 近日，清華大學深圳國際研究生院李星輝副教授團隊與國防科技大學團隊合作提出了一種基於反射型二維光柵的外差式三自由光柵干涉儀。團隊自主設計具有高光敏度、高頻差和高信噪比的雙頻激光系統，基於二維反射型光柵和採用創新的共光路設計，搭建三自由度位移測量系統，設計並優化外差信號相位檢測算法，最終實現了亞納米的測量分辨率和重複定位精度。這項工作將有效推動多自由度光柵精密定位技術的發展。
多自由度精密定位技術在納米計量、顯微成像、精密機床、半導體製造等領域具有重要地位。以半導體製造為例，光刻機是半導體行業的“掌上明珠”，在先進製程的光刻機中，晶圓台需要亞納米位移測量精度的六自由度超精密定位技術。當前光刻機常用激光干涉儀和光柵干涉儀對晶圓台進行多自由度超精密定位，然而激光干涉儀由於暴露在環境中的光路長、難以實現單測量點多自由度測量等限制，會引入環境噪聲和阿貝誤差，而以光柵柵距為測量基準的光柵干涉儀正成為光刻機晶圓台超精密定位的主流方法。
（a）光刻機晶圓台中“四讀數頭—四光柵”的六自由度測量系統；（b）外差式三自由度光柵干涉儀基本原理
針對光刻機等先進裝備中的超精密定位需求，團隊提出了一種新型的基於外差干涉原理的三自由度光柵干涉儀，可以實現亞納米的測量分辨率和重複測量精度，並通過“四讀數頭—四光柵”的晶圓台測量系統可以實現六自由度位移/角位移測量。該外差光柵干涉儀使用一束雙頻激光，通過二維反射型光柵的四束衍射光產生外差干涉，實現光柵在X/Y方向上的位移測量，通過光柵反射光與固定反射鏡反射光產生外差干涉，實現光柵在Z方向上的位移測量，從而完成光柵ΔX、ΔY、ΔZ三自由位移測量。該方案創新地採用了二維反射型光柵，利於光路系統讀數頭的集成化和小型化，在未來應用中，可以將讀數頭和光柵分別安裝於固定部件和運動部件上，來檢測運動部件的位移，其相對於基於透射型光柵的測量方法具有更廣的適用性。
此外，研究團隊提出並採用了自主設計的雙頻激光系統，相比於傳統的基於塞曼效應的商用雙頻激光器，具備更大更穩定的頻差，以及更強的激光功率，可以實現更高的光源穩定性和信噪比以及更大的外差頻率，有利於提升系統的整體精度和測量速度。最終實驗結果顯示，該系統具備0.5納米的分辨率，0.6納米的重複定位精度和2.5×10 -5的測量線性度。該研究提出的外差式三自由度光柵干涉測量方法有利於多自由度超精密定位技術的發展，同時對先進裝備和精密儀器的發展具有指導意義，尤其是需要多軸超精密定位的納米科學和技術。
（a）自主設計的雙頻激光系統；（b）外差式三自由度光柵干涉儀測量系統
（a）三軸分辨率測試結果；（b）三軸在10納米和40納米處的重複定位精度測試結果
相關成果以“三自由度亞納米測量反射型外差光柵干涉儀”（A Reflective-Type Heterodyne Grating Interferometer for Three-Degree-of-Freedom Subnanometer Measurement）為題，在線發表在儀器儀表領域期刊《IEEE儀器與測量彙刊》（IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement）上。
論文第一作者為清華大學深圳國際研究生院2020級碩士生朱俊豪，清華大學深圳國際研究生院李星輝副教授為通訊作者，國防科技大學為共同通訊作者單位。該研究得到廣東省基礎與應用基礎研究基金、國家自然科學基金、清華大學科研啟動基金、湖南省自然科學基金、中國博士後科學基金等的支持。
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