SKAP wrote:
笑死每次看到這種都...(恕刪)
那麼你應該也知道，DXO的測試不一定能參考
例如測Panasonic GM1這台微單眼時，DXO不用機械快門而是用電子快門
https://www.mobile01.com/topicdetail.php?f=250&t=3955253&p=6#50707230
地圖上的流浪者 wrote:
那麼你應該也知道，DXO的測試不一定能參考
例如測Panasonic GM1這台微單眼時，DXO不用機械快門而是用電子快門
https://www.mobile01.com/topicdetail.php?f=250&t=3955253&p=6#50707230
連結內的:
第一個例子是Image sensor的Fixed pattern noise，
因為它的成因來自於同樣照度下，Image sensor上各Pixel的溫度不同造成的Non-uniformity
確定是這樣嗎??
Fixed Pattern Noise同步雜訊：這個問題主要出現在 CMOS 感光原件上，
由於 CMOS 是每一個 Pixel 配置一ADC放大器，垂直多數放大器的放大倍率不容易一致，從而造成雜訊問題。
發文自帶酸性體質的人還真多
mocca6361 wrote:
連結內的:第一個例...(恕刪)
我大概知道你是從哪裡得到這些資訊的
首先，CCD也有Fixed Pattern Noise，成因與CMOS有些許不同。這不是CMOS Sensor專屬，CCD Sensor的Fixed pattern noise處理方式已經很大量地被探討
然後是CMOS Image sensor的架構部分，ADC的電路面積不小，尤其是相機產品至少都是12-bit，是不可能每個Column都一組ADC的
而且ADC本身的Gain最理想狀態是1。當然ADC會有些Non-linearity（DNL/INL)、Gain error與Offset error等非理想效應，但產品出廠前都會在Wafer-stage測試時Trimming或是透過軟體做Auto-calibration
CMOS Image Sensor真正每個Column配一組的，是Read-out amplifier，不是ADC。其Column與Column之間的Mismatch造成的是Photo Response Non-Uniformity，照光下的Fixed pattern noise
沒有照光下的，叫做Dark Signal Non-Uniformity，這是來自於Pixel的Non-Uniformity，溫度是一個影響因子
而且，以數量來說，Pixel的數量遠多於Read-out amplifier的數量。Read-out amplifier都會有Non-uniformity的問題了，為何會認為數量更多的Pixel不會有同樣的問題？顯示產品三天兩頭都在面對Pixel non-uniformity造成的影響，顯示器的畫素數目還比較少
現在很多無反光鏡相機的CMOS sensor上都有內嵌相位對焦點，排列的位置沒考慮好也會造成Fixed pattern noise，而且"pattern"會剛好與相位對焦點的位置匹配
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