Jemshon wrote:
P/E是靠大量實驗...(恕刪)
PE不是單純這樣去計算的,任何顆粒的PE值,都是有一個ECC門檻,去做為固定要求,顆粒等級分類時,也是此條件去衡量BLOCK錯誤率之後,才能得知保證PE.
假使顆粒本身錯誤數量為20最大值,而控制器除錯能力為44,那麼中間這24的部分,就是所謂的保證壽命,也就是PE值的意思.而越高級的顆粒,錯誤的數量就會越低,這是正向延長壽命的根本方法,而另一種方法,則是提高ECC能力,去加大這寬裕的範圍部分,這樣也是反向的另一種方式,同樣能延長壽命.
但新製程或錯誤越多的顆粒,自然對於ECC就有更高的要求,但是體值越差的顆粒,因為本身較不穩定,所以錯誤提高的可能性,也會較體質好的機率更大,這也是為什麼新的控制器ECC能力,會越來越高的原因,因為一旦環境或壓力,使err暴增的話,就會因無法修正,必須替換該區塊了,等到錯誤高到一定條件後,即使SMART不去計算壽命,控制器也一樣會限制這些區塊使用,所以容量變越用越少.
那為何體質才是最重要的呢? 因為一旦超過了能修正的能力上限,錯的Data就只能錯了,那該檔案的下場會如何,應該不用解釋,也該明白了吧.....
