如果去對顆粒不斷去做內部data讀取,那麼每次讀取就會帶走非常弱的一些電流,
最後同樣可能會讓資料消失或出錯,這樣的讀取次數要非常非常的多,才真有可能會發生,
印象中要到百萬次的程度後,資料才會開始出現這樣的情形.因此讀取才不需太被顧慮.
溫度對Flash產品會有影響這點,其實JESD218文件就很清楚提過了,
所以並不是什麼新的論調或理論,打從有Flash就一直存在的了,
過去我也在01碰到過不少爭辯可靠度與耐久度的主題了,
但其實會讓對方不接受所謂溫度實驗,說穿了只因User不會去看這類文件罷了,
當他光用想像或正常邏輯去思考,就會認為根本不存在這樣的環境,
不過現在大家就理解這實驗的目的為何了.
至於為何便宜的產品容易故障,跟這部分說有關也有關,
但是要說無關,卻又似乎也不能說是錯的,畢竟無法清楚該來源與品質.
簡單的說會導致壽命不長或容易出錯的主要因素,
就是異常便宜的產品,裡頭的顆粒用的可能是回收的,而非全新的Flash,
還有一種情況是新的跟舊的混合在同一顆使用,
當SSD使用過程遇到data錯誤時,ECC部分會去做修正的動作,如果不能就是做壞塊替換.
要是超過修正的範圍,碰到錯誤暴增的情況,就很大機會發生認不到SSD問題了.
依各個不同的晶片,修正的能力也有所不同,另外各規格Flash同樣是有對此要求,
必須滿足之後,PE值才是能夠保證的,所以說來說去各個環節都是互相影響著,
所以才會說不要貪圖一時的便宜,不然所有風險都會因此而有所提高.
回收的顆粒因使用或多次加工烘烤過,良率當然不可能跟新的還是一樣的,
(回收有許多不同條件和狀況,總之就是品質參差不齊)
而錯誤的機率越到後期就會越來越高,所以自然用不久就容易出現嚴重問題,
Ｓ.Ｍ.Ａ.Ｒ.Ｔ.說真的.....很多不見得會顯示出來的,只能從一些顯示的跡象去做判斷,
所以不要以為沒有看到有變化,就認為品質是良好的,搞不好是根本刻意不做記錄罷了.
買那些超低價SSD產品的朋友,建議是真的不要去進行長時間的大量存取,
原因自然是不去加大對SSD的壓力,盡可能地避免掉老化與錯誤暴增的機會.
這部分其實是有實際計算方法,但是可能寫了也只是讓多數人不理解,
所以不會用算法方式告訴大家原因,而是都以不建議或者是有顧慮的方式提醒,
如果真的有興趣知道的人,自然就會去找出實際原因,也根本不用多提了.
另外使用傳統大容量硬碟的,可能也要開始注意了,硬碟與SSD有機會發生相同問題了,
因為磁碟密度已經高到一個地步,資料存取時也開始有機會,讓附近區塊資料因此而出現干擾了.
常溫放置500小時等等的驗證方法與標準,文件裡同樣也是很清楚地說明了.
平常我們所使用的SSD,除了蘋果有機會內部達到高溫外,一般NB都不至於有發燙可能.
5X度以內出現錯誤情況,我目前為止遇到的經驗是0,
fedora wrote:
難怪市面都沒有 2.5" 的 USB 外接 SSD 隨身碟
話別說得太肯定
不多
但不是沒有
PHILIPS 64GB USB3.0外接式SSD固態硬碟
威剛 SE720 128GB USB3.0 外接式SSD
Apotop 萬國 U3Box 256GB USB 3.0 外接 固態硬碟
Transcend 創見 ESD400 256G 1.8吋 USB3.0 外接式固態硬碟
TDK 128GB USB3.0 超極致高速外接式SSD固態式硬碟黑色
金士頓 外接式固態硬碟 USB3.0 2.5吋 480G SSD
Silicon Power 廣穎 Thunder T11 120G USB3.0 外接式 SSD 固態硬碟
changpizz wrote:
所有的Flash產...(恕刪)
thank you ..
flash 的確有類似問題 但應該沒新聞說誇張 . 至於 ssd 和 sd/microSD 關係 前面幾樓有說過了 .
nand flash 適合於資料儲存
nor flash 適合用於儲存不需經常更新的程式，例如BIOS或韌體
WIKI 成大WIKI
現在是否都是 nand flash 為主 ?
eeprom 可以 一個 bit erase 和 flash 以block 為主不同 .. 93c46 eeprom 和一般flash disk 不太同
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