JohnTitor wrote:
REW 的訊號發生器有一項 J,-test阿,要看JITTER可以用用看...(恕刪)
JohnTitor大您好，我在另一棟大樓的這篇「十八、J-test」有提過J-test的原理，就其背景理論，可能對於R-2R DAC還稍有可能適用。對於現在常見的over sampling sigma-delta DAC，其代表的jitter意義已經很薄弱了。
使用48k-16bit測試波形測樹莓派耳機孔，比較電池(行動電源)與插座電源如下：
紅色與藍色虛線各有高低，但相差不多，並沒辦法直接給出明確結論誰好誰壞。但有一點可以分享，我有分別量測多次。雖然各次結果會稍有量測誤差，但是每次看到的趨勢都很接近。也就是上圖紅色、藍色高的地方、誰比較高，都幾乎長這樣。
至少量測的一致性還蠻高的就是了～
。至於您說的錯誤在哪兒，因為也還是沒弄清楚。若方便的話，還請幫忙在圖上標示，會比較方便討論喔。
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